Sie erhalten einen umfassenden Überblick über den aktuellen Stand der Gerätetechnik und die Einsatzmöglichkeiten der röntgenographischen Phasenanalyse. Die Einflüsse der Probenpräparation und der verwendeten Beugungsgeometrie auf das Analyseergebnis werden vorgestellt. Dabei wird die volle Problembreite berücksichtigt (geringe Substanzmengen, luftempfindliche Proben, Substanzen mit Vorzugsorientierungen, Routineuntersuchungen an Pulvern und am kompakten Material, dünne Schichten, zerstörungsfreie Werkstoffprüfung). Nachweisgrenzen und Reflexauflösungen werden bewertet. Neben der qualitativen Phasenanalyse (Informationsgehalt und Strategien im Umgang mit der Datenbank) bildet die Diskussion der einzelnen Methoden der quantitativen Phasenanalyse mit ihren Vor- und Nachteilen und somit unterschiedlichen praktischen Einsatzmöglichkeiten einen wesentlichen Schwerpunkt. Praxisnah werden (Mikro-) Absorption und Vorzugsorientierungen einbezogen. Die Rietveldmethode wird in ihren Grundzügen vorgestellt und an Beispielen demonstriert. Fragen zur Bestimmung des amorphen Anteils und der Kristallinität sowie von Kristallitgrößen werden behandelt. Eine Spezifizierung anhand bereitgestellter Daten der Teilnehmer ist erwünscht. Das Verständnis für die einfache Handhabung von Textur und Eigenspannungen wird vermittelt. Die Möglichkeiten und Probleme bei der Erfassung dynamischer Prozesse (Hochtemperaturmessungen) werden diskutiert, wiederum anhand verschiedener Probentypen.

(Beschreibung nach Veranstalterangaben)

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